MALZEME KARAKTERİZASYON METALOGRAFİ YÖNTEMLERİ
FİNAL SINAVI SORULARI
1. Metalik malzemelerin tane büyüklüğünün nasıl değiştirilebileceğini sadece maddeler halinde yazınız.(10P)
2. Bir metal mikroskobunda ana optik sistem parçalarını göstererek bunları kısaca açıklayınız (10P)
3. Objektiflerin özelliklerini yazarak bunları kısaca açıklayınız. (10P).
4. X-ışınları üretimini tüpün yapısını da çizerek açıklayınız ve X-ışınlarının özelliklerini maddeler halinde yazınız. (10P)
5. X-ışınları floresan (XRF) analiz yöntemini şekil çizerek açıklayarak bu yöntemin avantaj ve dezavantajlarını maddeler halinde yazınız.(10P)
6. a) HMK, YMK ve basit kübik kafes yapılarında h, k,l miller indislerinin hangi değerlerinde kırınım elde edilir, açıklayınız. (5P).
b) HMK yapıya sahip demir üzerine dalga boyu λ= 0.1790 nm olan X-ışınları gönderiliyor. (220) düzleminde oluşacak kırınım açısını (θ) hesaplayınız. (Demirin kafes parametresi, a= 0.2866 nm).(5P)
7. Elektron mikroskobunda elektron-numune etkileşimindeki oluşumların şekil çizerek gösteriniz ve hangi incelemelerde kullanıldıklarını kısaca yazınız. (15P)
8. Ferritik-perlitik kır dökme demir, ferritik küresel grafitli dökme demir, ötektoid çelik ve siyah temper dökme demir malzemelerin iç yapılarını çizerek fazların isimlerini yazınız.(10P)
9. Aşağıda verilenleri açıklayınız.(15P)
a) Dilatometre b) Diferansiyel termal analiz (DTA), Termogravimetrik analiz (TGA)
Hiç yorum yok:
Yorum Gönder